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18/02/2010

Solutions STIL d'inspection des cellules solaires

Microtopographie d'une grille de contact
Web :Lien
Contact : Damien Dupraz

STIL SA est heureux de présenter sa gamme d'instruments (profilomètres et goniophotomètre) qui donnent accès à de nombreux paramètres pour caractériser et inspecter les cellules photovoltaïques (épaisseur, microtopographie, rugosité, profondeur des vias, diffusomètrie).

Désireux d'offrir à ces clients des solutions innovantes de hautes performances, STIL SA conçoit et fabrique des capteurs propriétaires permettant des investigations non destructives et un contrôle en ligne des étapes de fabrications des cellules solaires.

Les capteurs et nos systèmes sont utilisés aussi bien en R&D qu'en contrôle industriel de la production.

En complément de l'analyse des cellules type silicium cristallin, d'autres types de cellule ou de technologies peuvent être étudiés comme:

- Couches minces (texturation par ablation laser, épaisseur de feuille métallique en sortie de laminoir)

- Nano-fils (Diamètre des nano-fils, Microtopographie)

- Black silicon (Microtopographie, Diffusométrie)

- TSV (profondeur des Vias, trous de contact)

- Encapsulant et vitre des modules (Topographie, Rugosité, Diffusomètrie)