CEM 27 numéro – Avril 2009

Actualités

Reportage sur un ouvrage d’art instrumenté : le viaduc de Woippy

Dossier
Spécial Congrès International de Métrologie

•  Page d’ouverture du dossier

·       Présentation Congrès - les temps forts : 6 tables rondes industrielles, les 80 conférences, 90 stands d’exposition sur les dernières évolutions techniques et les 4 visites techniques dans des entreprises mettant en place les bonnes pratiques. +  interviews d’exposants

·        Interview Présidente du Congrès et Président du CFM·        Programme détaillé des conférences

·        Articles dédiés à chacune des 6 tables rondes :

1-     enjeux de la métrologie pour la santé

2-     métrologie et réduction des émissions de gaz à effet de serre

3-     métrologie et performances de l’entreprise

4-     températures industrielles et nouveaux matériaux 

5-     accréditation, enjeux économiques et stratégiques 

6-     perspectives des mesures sans fils en milieu industriel 

·        Nouveautés produits : Présentation produits des exposants privilégiés du CFM, produits des annonceurs, etc.

Essais non destructifs (en partenariat avec la Cofrend)

Actualités7^e symposium international sur les essais non destructifs pour le Génie Civil "NDTCE'09"  

Avis d’experts Quantification des défauts en radioscopie numérique et par tomographie haute résolutionLe premier article traite de la mesure et de la quantification des défauts internes par radioscopie numérique, technique de CND de plus en plus utilisée en contrôle de production. Or, à l’heure actuelle, le standard de référence est l’ASTM E505, mis au point pour la radiographie et utilisé en radioscopie. Le second article traite de l’analyse des défauts internes dans les pièces de fonderie sous pression par la tomographie, technique de CND beaucoup plus récente mais qui commence à se répandre dans l’industrie. 

Focus techniques

Des outils de mesure pour le diagnostic immobilier - Les enjeux, les labels, les innovations.   

Optique

En partenariat avec le Club CMOI de la SFOAvis d’experts

Etude comparative de techniques analytiques in situ : les apports du LIBS à la connaissance des peintures murales Les techniques d’analyses classiques en laboratoire sont adaptées aux problématiques d’identification des matériaux mais demeurent longues et nécessitent une mise en œuvre complexe. Une approche in situ des analyses non destructives ou micro destructives, essentiellement des techniques de caractérisation optique, telles que la XRF portable, la micro spectroscopie Raman, la spectrophotométrie et le Laser Induced Breakdown Spectroscopy), permet de limiter le nombre d’échantillons à prélever. Cette étude a pour but de déterminer et de comparer les apports et les limites de chacune de ces techniques.